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徕卡Leica EM TIC 3X 德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 可检测半导体芯片
EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。带来前所未有的便利! 1:SiC 研磨纸的横切面 l 2:胶合板的横切面 l 3
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Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 应用于纳米材料
EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。带来前所未有的便利! 1:SiC 研磨纸的横切面 l 2:胶合板的横切面 l
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Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 适用于截面结构
水) l 4:通过 Leica EM TIC 3X (配旋转载物台) 处理展现的油页岩 (纳米孔),总样品直径为 25 mm效率对于离子束研磨机的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量
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切割机Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X 可检测电镜制样产品
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 适用于电镜制样产品资料_项目,参考多项行业标准。可以检测电镜制样产品等样品。可应用于多个行业领域。 LEICA EM TIC
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德国徕卡 离子研磨仪 EM TIC 3X
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德国徕卡离子研磨仪 EM TIC 3X
产品简介:独特宽场三离子束,以垂直于样品侧面纵向轰击样品,实现高质量无应力“切割”截面,几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍:可复制的结果Leica EM TIC 3X 三
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Kromasil 100-5-C18 4.6x250mm
*50mmMF1CLD05MH2CLD05MH3CLD05M05CLD05----2.1*100mmMF1CLD10MH2CLD10MH3CLD10M05CLD10----2.1*150mm--MH3
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Kromasil 100-5-C8 4.6x250mm
CMD05M05CMD05-M10CMD05--2.1*100mmMF1CMD10MH2CMD10MH3CMD10M05CMD10----2.1*150mm--MH3
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普析通用 大块不规则固体 XD-2/XD-3/XD-6自动X射线粉末衍射仪
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抛光机Leica EM TIC 3X德国 离子研磨仪 EM TIC 3X 应用于其他生命科学
点击查看下载抛光机Leica EM TIC 3X德国 离子研磨仪 EM TIC 3X 应用于其他生命科学相关资料,进一步了解产品。 徕卡EM TIC 3X可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验
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