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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征光伏器件
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测光伏器件等样品。可应用于多个行业领域。 技术参数
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测纳米级厚度的高k介电材料
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定纳米级厚度的高k介电材料,符合行业标准0。适用厚度,光学常数,纳米级尺寸的界面项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测介孔硅复合材料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域,用来检测介孔硅复合材料,可完成厚度,光学常数,各向异性项目。符合多项行业标准0。 技术参数
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椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA 可检测玻璃和预蒸镀基底
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定玻璃和预蒸镀基底,符合行业标准0。适用光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm
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UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测ZnO薄膜
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZnO薄膜的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的Al含量,膜厚度项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 应用于分子生物学
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定生物素,符合行业标准0。适用生物膜厚度,界面反应项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏
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UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度项目,参考多项行业标准0。可以检测并五苯有机薄膜晶体管等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征AIN的光学特性
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成AIN的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的光学特性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征封装应用中的势垒层
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定封装应用中的势垒层,适用于过程控制项目。并且参考多项行业标准0。可应用于多个行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振
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椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA TFT和LTPSTFT-LCD显示器的表征
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定TFT和LTPSTFT-LCD显示器,适用于厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是
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