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X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110
大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体
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X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9200
生成软件主要特点:[SFT9200系列]继承了拥有20多年历史及光辉业绩的[SFT系列](操作性与可靠性共存)的有点,并不断发展,成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
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X射线荧光镀层厚度测量仪 SFT9500
仪器简介:SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合,产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束。 所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度
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X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110
)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从zei大250
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X射线荧光镀层厚度测量仪 SFT9200
仪器简介:[SFT9200系列]继承了拥有20多年历史及光辉业绩的[SFT系列](操作性与可靠性共存)的有点,并不断发展,成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型
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多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus
MXF-N3 Plus 电源保护Plus防尘设计岛津所有“无故障”高压发生器对外部电源要求较同类仪器低:-外部电压允许波动220V±10%-接地电阻十分宽泛≤30Ω独特的防尘设计 ①X射线
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斯派克SPECTROMIDEX台式小焦点X射线荧光光谱仪
元素分析的准确性往往非常重要——尤其是在评估贵金属时。对其他应用来说,速度甚至更加重要:高样品处理量的检测中心要求快速且准确的分析。此外,所有用户都希望分析仪坚固、方便和容易操作,配备实用软件,结果可
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理学 ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus沿袭了及时提供精确结果的传统,无与伦比的可靠性,灵活性和简便性适合当今实验室的各种挑战。随着理学的经验不断超越用户的期望,ZSX
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理学能量色散X射线荧光光谱仪NEX QC
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理学能量色散型X射线荧光分析仪 NEX CG
能量色散X射线荧光(EDXRF)是一种常规的分析技术,广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于:快速、准确、无损的多元素分析;元素分析范围涵盖
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