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X荧光镀层测厚仪
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X荧光测厚光谱仪
精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定
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FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列X射线荧光分析仪
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析,镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪高端半导体检测器(PIN和SDD) 确保出色的检测精度和高分辨率XAN
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X-ray sCMOS 4MP系列探测器
X-ray sCMOS 4MP系列探测器该探测器系列提供67 x 67mm 的有效探测面积以及400 万像素的分辨率。被预先沉积闪烁体可以覆盖从1KeV 到300KeV 的X-Ray 范围。同时可以
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X-ray sCMOS 16MP系列探测器
X-ray sCMOS 16MP 系列探测器该探测器系列提供95.5*95.5mm 的有效探测面积以及1600 万像素的分辨率。被预先沉积闪烁体可以覆盖从1KeV 到300KeV 的X-Ray 范围
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XF-8010型能量色散X射线荧光光谱仪
滤光片,X射线照射径从Φ1mm到Φ7mm可选。 • 强大的自主定制分析报告格式功能,分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式,分析结果自动保存,可方便对历史数据进行查询及统计,只需一次
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马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪Epsilon Xflow
受控的重要矿物质(包括钾、钙和铁)提供在线监测。特点工艺中的元素分析X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性的元素分析技术,可以测量您的工艺流,而不会造成任何损失或化学/物理变化。 由此实现的实时在线
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奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪Vanta Element-S
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ARL EQUINOX 3000 X射线衍射仪
采用 Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX 3000 X 射线衍射仪,让您体验快速、准确的测量。
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