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EPMA-8050G岛津电子探针显微分析仪 适用于使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试
,可以对深孔底部、孔中异物进行分析。 对深孔中异物的分析实例。左下为铁(Fe)的分布,右下为钛(Ti)的分布。通过EPMA-8050G的高取出角,即使是表面明显凹凸不同的样品,也可进行高精度分析。分光
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 全自动进样系统
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 材料
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 金属
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 地质
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电子探针EPMAEPMA-1720系列岛津 应用于电子/半导体
异物的分析实例。左下图为铁(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。 从SEM观察到开始分析,简便易行,大幅度提高工作效率。同一
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岛津电子探针电子探针EPMA 适用于元素面分布 SEM+WDS
可以发挥重要的作用。 下面对某实验阶段的铅蓄电池负极材料进行测试,并分别使用 EPMA 和 EDS 及 SEM+WDS 对比不同 表面仪器的测试情况。 图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁(Fe
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EPMA-1720系列岛津电子探针 可检测铅蓄电池
异物的分析实例。左下图为铁(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。 从SEM观察到开始分析,简便易行,大幅度提高工作效率。同一
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EPMA-1720系列电子探针岛津 岛津电子探针对铅蓄电池的分析
异物的分析实例。左下图为铁(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。 从SEM观察到开始分析,简便易行,大幅度提高工作效率。同一
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