岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+
岛津
K-Alpha X射线光电子能谱仪
赛默飞
Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X 射线光电子能谱仪
赛默飞(原FEI)
袖珍型湿砂模具硬度计 C型
创诚致佳
X射线光电子能谱仪(XPS)
巨纳
Lb125核素识别仪
PHI X-tool 全自动扫描型微区XPS探针
高德英特
赛默飞XPS THETA PROBE X射线光电子能谱
多功能平台聚焦扫描微区X射线光电子能谱仪
理化
元素离子测试是指研究无机材料、复合材料、各种新材料表面及体内元素离子含量的一种方法,常用设备有D-SIMS、XPS、AES、TXRF、EDXRF、WDXRF、EA、CS分析仪、ONH分析仪、TOC总有机碳分析仪、AAS、ICPOES、ICPMS、IC等。了解详情
· 旋盖的设计符合人体工程学.开合简便,可以减少手腕的污染.且增加产率· 丰富的产品选择范围.培养面积从1 050 cm2 到4200 cm2 · 可选择标准型号,也可以选择的XPS (扩展表面
依据标准号:JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则
、高分子材料、有机/无机杂化材料、无机非金属材料。检测项目(1)半导体材料元素成分分析:EDS 元素分析,X 射线光电子能谱(XPS)元素分析;(2)半导体材料分子结构分析:FT-IR 红外光谱分析,X
,GB/T 32199-2015扫描电子显微镜&X射线能谱SEM/EDS;X射线光电子能谱XPS;GB/T 30704-2014JY/T 010-1996;GB/T 17359-2012红外光
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