2018年7月31日,日立高新技术公司(以下简称“日立高新”)正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000,它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间,真正实现了高通量的观察与分析。SU7000 扫描电子显微镜(SEM)可通过检测
样品的立体图像;超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000具有更强扩展性能,信噪比更好,利用其强大的6通道,可双显示器观察。日立的高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统NX9000的电子束与离子束呈90度夹角,可实现90度样品切割和观察
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