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瞬态光电性能测试系统DSR800光电器件
本系统主要是针对光电器件的动力学分析,利用周期性的脉冲单色光源,产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析,得到光生电的响应时间,如上升 / 下降时间,瞬态光电流与 瞬态光电
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THz 元器件
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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微纳器件光谱响应度测试系统
产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米
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电子元器件筛选
、电源监控器、电源管理等)、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、 控制器等;半导体分立器件:二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;电阻器
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电子元器件失效分析
的产品进行失效归零,是不断迭代提升产品质量的关键,对故障产品进行器件级和微观级的故障定位和原因分析,也是缩短产品研发周期,减少质量风险的重要途径。我们的优势广电计量深耕装备电子元器件失效分析与故障归零
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赛默飞 ARL 光电直读光谱仪
来料检测或金属质量控制还是成品分析,它都是您必需的得力工具。ARL iSpark金属分析仪的高可靠性足以保证全年365天、每天24小时的连续运转。火花光电直读光谱仪(OES)是应用最广泛的金属样品中元
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光电直读光谱仪 PDA-5500S
岛津光电直读光谱仪PDA-5500S 性能特点: 1)大型真空直读光谱仪 为了分析C、P、S、B等元素及保证高稳定性,采用真空型光谱室设计。与充氩气
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岛津光电直读光谱仪 PDA-8000
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Nexsa X射线光电子能谱仪
:离子散射谱,分析材料最表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。· UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息
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