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椭圆偏振光测量仪FE5000
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椭圆偏振测厚仪
:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物
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椭圆偏振光谱仪
仪器简介:近来多层膜和多化合物材料体系表征的需求不断增加,分光式椭偏技术的应用也随之激增。表面处理,半导体,先进材料研究和物理化学界面问题的探讨都要求非破坏性和非常灵敏的薄膜表征技术
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自动椭圆偏振测厚仪
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手动椭圆偏振测厚仪
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自动椭圆偏振测厚仪
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自动椭圆偏振测厚仪
仪器简介:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套
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自动椭圆偏振光谱仪
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单波长椭圆偏振分析仪
分析仪为可变入射角度、以He-Ne气体激光器波长632.8nm作为光源的椭偏仪。该仪器具有入射波长非常准确、很宽角度范围可选、样品准直简便易行等优点。单波长自动椭圆偏振分析仪适用于企业在线检测、控制
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自动椭圆偏振光谱仪
广泛应用。公司具有非常专业的工程师为您共同解决一切使用和应用难题, 协助您发表学术论文数据分析, 是您zei值得信赖和使用的椭偏产品。 SC620型自动椭圆偏振光谱仪是单色仪分光、连续波长
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