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赛默飞(原FEI)Quattro
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。如今,研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜(Scanning Electron
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案和嵌入式组件
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
使用单颗粒分析技术测定大分子结构的完整解决方案冷冻电镜单颗粒分析技术(Single Particle Analysis,SPA)可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功
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镀金原刻光栅
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浪声 晓INSIGHT X射线荧光测厚仪 镀层测厚仪
晓INSIGHT镀层测厚仪,高性能探测器,测量低至1纳米,可测多达5层,可检测微小件、不均匀件等,一站式解决方案,免费测样,终身维护,品质无忧!
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浪声 晓INSIGHT 镀层分析仪 用于单镀层
晓INSIGHT镀层测厚仪,高性能探测器,测量低至1纳米,可测多达5层,可检测微小件、不均匀件等,一站式解决方案,免费测样,终身维护,品质无忧!
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品
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