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测绘仪器计量校准
测绘仪器是为测绘作业设计制造的数据采集、处理、输出等仪器和装置。在工程建设中规划设计、施工及经营管理阶段进行测量工作所需用的各种定向、测距、测角、测高、测图以及摄影测量等方面的仪器
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奥谱天成OPTOSKY SM280 自动显微薄膜厚度测绘仪
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奥谱天成OPTOSKY SM230 自动光学薄膜厚度测绘仪
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MFC2046 核磁共振磁场成像测绘系统
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MMS-1A-RS三维磁场成像测绘系统
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Map薄膜厚度测绘仪
Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物
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国仪量子SCS1800同步控制系统 应用测绘定位
多种应用场景。时间同步精度< 500 ps支持18个同步端口同步距离高达20 km任意级联,拓扑结构灵活自动校准补偿链路延时漂移支持亚纳秒级同步触发控制功能应用领域测绘定位分布式控制多基地
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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奥谱天成OPTOSKY SM200 光学薄膜厚度测量仪
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