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OLS4500纳米检测显微镜
和特长 可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM: Scanning Probe Microscope) 探针显微镜(SPM)是通过机械式地用探针在样品表面移动,检测出探针与
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SPM-9700HT用纳米物理检测软件
纳米领域表面/界面物理性质可视化处理扫描探针显微镜的探针和样品之间的力随距离的变化而变化,通过测量作用于探针接近/离开样品时悬臂感受到的力的力(测量力曲线),可以检测表面/界面的物理性质。主要优点
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Monowave 400安东帕微波合成 可检测纳米材料
安东帕微波合成仪Monowave 400用于测定纳米材料,符合行业标准。适用纳米材料合成项目。 微波萃取又称微波辅助提取( Microwave -assisted Extraction,MA E
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安捷伦Agilent 8900 ICP-MS 可检测纳米材料
安捷伦ICP-MSAgilent 8900 可用于测定SiO2 纳米材料,适用于表征项目。并且参考多项行业标准。可应用于纳米材料行业领域。 极低检测限,甚至可用于以前难以检测的元素,例如 S、Si
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安东帕NHT³纳米压痕仪
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安东帕NST³纳米划痕仪
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安东帕NHT³纳米压痕仪
表面参比为材料压入位移提供恒定参考(相对于样品表面)高框架刚度 (107 N/m) 为纳米压痕测量提供高准确度和精确度测量的高稳定性采用表面参比技术来实现纳米压痕测量中的高热稳定性(原始热漂移率
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安东帕NST³纳米划痕仪
位移量,从而可以评估材料的弹性、塑性和粘弹性能(专利:US 6520004)不打折扣:施加任何微牛级的载荷闭环主动力反馈系统可在 1 μN 以下进行更精确的纳米划痕测试。纳米划痕测试仪包含一个 传感器
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安东帕UNHT³超纳米压痕仪
更多样品连夜进行一系列测试高精度的纳米压痕测试仪用于进行准确的表面检测高质量载荷-位移曲线,载荷 107 N/m国际标准ISO 14577, ASTM E2546
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安东帕UNHT³超纳米压痕仪
6 个或更多样品连夜进行一系列测试高精度的纳米压痕测试仪用于进行准确的表面检测高质量载荷-位移曲线,载荷 107 N/m国际标准ISO 14577, ASTM E2546
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