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激光粒度仪、纳米粒度仪
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安东帕 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer DLS系列
安东帕
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岛津纳米激光粒度仪SALD-7500nano
岛津
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安捷伦注射进样型粒度分析仪
安捷伦
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Particle Metrix(PMX) ZetaView® 纳米颗粒追踪分析仪
大昌华嘉
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欧美克NS-90 Plus纳米粒度分析仪
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马尔文帕纳科NanoSight Pro纳米颗粒跟踪分析仪
马尔文帕纳科
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BettersizeC400光学颗粒计数器
丹东百特
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HORIBA LA960激光粒度仪
HORIBA Scientific
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激光粒度分析仪 大量程激光粒度仪 Analysette 22 NanoTec Plus
圆派科学
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A22 NeXT 激光粒度仪
飞驰
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岛津纳米激光粒度仪SALD-7500nano
岛津公司在中国市场推出了纳米颗粒的粒度分布测定装置SALD-7500nano。 SALD-7500nano纳米激光粒度仪具备高测量精度与出色的灵敏度,粒径测定范围7nm(0.007μm)~800μm。
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安东帕Litesizer 100纳米粒度分析仪
只需按下按钮即可进行颗粒分析 Litesizer™ 100 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸。
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安东帕 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer DLS系列
Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器,您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子,从而缩短样品制备时间。
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IG-1000Plus 单纳米粒度测定装置
IG方法不使用散射光,所以它不受物理限制,并且它不需要输入折射率作为测量条件。因此它使得纳米粒子的测量变得简易,并具有高灵敏度,尤其是对单纳米颗粒粒子分析很有效。
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超声法纳米粒度及Zeta电位分析仪
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麦奇克Nanotrac Flex 纳米粒度分析仪
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BeNano 180 纳米粒度分析仪
产品介绍BeNano 180 纳米粒度分析仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理,样品分散在样品池中,通过激光照射到样品上
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麦奇克 Nanotrac wave II纳米粒度及Zeta电位仪
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BeNano 180 Pro 纳米粒度分析仪
产品介绍BeNano 180 Pro 纳米粒度分析仪是 BeNano 180 + BeNano 90 二合一的光学检测系统。该系统中集成了背向 173°和经典的 90°动态光散射 DLS
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BeNano90纳米粒度分析仪
产品介绍BeNano90纳米粒度分析仪是基于动态光散射原理,样品分散在样品池中,通过激光照射到样品上,光电检测器在 90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动,再通过相关器进行
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