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光谱角分布测量系统
光谱角分布测量系统 ■ 全波段光谱透过率测量,反射角分布测量 ■ 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量 ■ 波长范围:200nm-IR ■ 不同的
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Scios DualBeam 电子显微镜
尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率,使您可以根据信号的角分布选择信号,从而轻松分离材料和形态对比度,即使着陆能量为 20 eV 也是如此。Scios 的材料科学应用Scios
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Scios DualBeam 电子显微镜
有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率,使您可以根据信号的角分布选择信号,从而轻松分离材料和形态对比度,即使着陆能量为 20 eV 也是如此。Scios 的材料科学应用
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双折射显微成像系统
双折射显微成像系统生物组织/材料 双折射分布显微成像系统Hinds Instruments公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以精确测量
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快速多视角 Imaging Sphere
,确保高精度测量。Imaging Sphere 可配置用于测量 LED 和其它小型光源的远场光强分布、测量显示器视角性能或测量表面散射光线的角分布(BRDF 和 BTDF)。对于 LED、FPD
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单颗LED光通量光强综合测试系统
LED灯珠电性能及光强参数的测试功能。 用户自设定正向工作电流, 仪器可测量和显示LED灯珠的正向电流、正向电压、反向电流、反向电压、光强值(10mcd~2000cd),LED光强视角分布,单
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4-45TM培养瓶
特点:具有四侧臂成直角分布特点的4-45型容器,可用于细胞反应器的反应容器 。好处是更增加其容纳力,配有不锈钢的封盖,用于固定安装探头和管道。可接收所有标准的配件包括管道和探头。具有 1L
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光谱角分布测量系统
光谱角分布测量系统 ■ 全波段光谱透过率测量,反射角分布测量 ■ 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量 ■ 波长范围:200nm-IR ■ 不同的光谱
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Gatan 精密刻蚀镀膜系统PECS II 685
ALT 327,为 ALTO 冷冻扫描电镜系统而设计的撞击式冷冻制样设备,提供了样品载体和样品载台,它们可以放置在 ALTO 2500 冷冻工作站或ALTO 1000 的液氮泥加工站中*。
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HOLO / OR衍射分束器
Mode:SM or MMHOLO / OR衍射分束器是衍射光学元件(DOE),可将输入激光束分成几束,称为衍射级。这些衍射级可以布置成一维光束阵列或二维光束矩阵,其中各个光束斑以限定的分离角分布
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2023仪器产业营收超1万亿,这些仪器公司增长显著
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