X射线能谱仪(EDS)
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牛津仪器Azteclive能谱实时元素成像系统
牛津仪器
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布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM
布鲁克纳米表面
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电镜用能谱仪
中科科仪
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JED-2300/2300F 能谱仪
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TEM QUANTAX EDS
BRUKER NANO ANALYTICS
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EDAX EDS TEM Octane
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EDAX EDS Octane Elect
Octane Elect EDS 系统Octane Elect EDS 系统是一款增强型能量色散谱 (EDS) 平台,融入了最新硅漂移探测器 (SDD) 技术和高速电子元件。Octane Elect
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EDAX EDS Octane Elite
Octane Elite EDS 系统Octane Elite SDD 的颠覆性进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口,使轻元素检测和低 kV 微区分
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X射线能谱仪EDS能谱实时元素成像系统Azteclive 适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive可用于测定Metals,适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys项目。并且参考多项
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EDS牛津仪器X-MaxN 可检测Polymer
牛津仪器EDSX-MaxN可以用在高分子材料行业领域,用来检测Polymer Materials,可完成Polymer Materials项目。符合多项行业标准Oxford Instruments
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EDS牛津仪器X-MaxN 可检测Power
牛津仪器EDSX-MaxN适用于Power Semiconductors项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于
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EDS牛津仪器硅漂移探测器 失效分析
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 可检测and
采集效率,尤其是对于轻元素,意味着所有能量都有更多的计数配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR,我们优化了探测器和
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硅漂移探测器EDS牛津仪器 可检测and
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 失效分析
对于轻元素,意味着所有能量都有更多的计数配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR,我们优化了探测器和样品之间的距离来
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