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(原FEI) 透射电镜 TEM赛默飞FIB-SEM 其他资料
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Agilent 7696A 样品制备平台
Agilent 7696A 样品前处理工作台具有一致的精度,消除了与稀释、添加内标和衍生化等样品前处理常规步骤相关的误差。
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FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜 样本
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Aquilos 2 Cryo-FIB赛默飞FIB-SEM 应用于地矿/有色金属
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FIB-SEMScios 2 DualBeam(原FEI) 透射电镜 TEM 应用分享 | 锂电池安全分析
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FIB-SEM(原FEI) 透射电镜 TEMScios 2 DualBeam 应用于地矿/有色金属
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德国 单颗粒投入冷冻仪 EM GP2Leica EM GP2 冻干机 Leica UM EM 综合产品目录2020版
样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供:超薄切片,组织处理,高压冷冻,镀膜,临界点干燥,机械研磨抛光,离子束研磨,冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段,适用于TEM/SEM/FIB
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冻干机徕卡Leica EM GP2 样本
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徕卡Leica EM GP2 冻干机 应用于微生物
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Leica EM GP2 冻干机德国 单颗粒投入冷冻仪 EM GP2 应用于纳米材料
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