透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
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赛默飞世尔Spectra S/TEM透射电子显微镜
赛默飞
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国产场发射透射电子显微镜 TH-F120
国仪量子
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牛津仪器AZtecTEM软件
牛津仪器
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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
赛默飞(原FEI)
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TESCAN 4D-STEM TENSOR
泰思肯
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
文明机电
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
日本电子
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赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电镜
欧波同
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CAMECA 三维原子探针 Leap 5000
CAMECA SAS
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新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E
Quantum Design中国子公司
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EDAX EDS TEM Octane
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中
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EDSX-Max TEM牛津仪器 可检测Polymer
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials,适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物
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牛津仪器EDSX-Max TEM 可检测Power
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford
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牛津仪器EDSX-Max TEM 可检测Materials
牛津仪器EDSX-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Construction Materials的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的
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X-Max TEM牛津仪器EDS 可检测Properties
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在生物质材料行业领域,用来检测Microstructure and Mechanical Properties,可完成Microstructure
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Talos L120C TEM
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EDSX-Max TEM牛津仪器 适用于Pore Fluids
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Pore Fluids项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pore Fluids等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域
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牛津仪器X-Max TEM硅漂移探测器
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赛默飞世尔Spectra S/TEM透射电子显微镜
Thermo Scientific™ Spectra™提供先进的原子级成像和分析 2019年赛默飞世尔科技推出Thermo Scientific Spectra 透射电子显微镜(S/TEM),旨在
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EDSX-Max TEM硅漂移探测器 可检测Semiconductors
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
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