-
BET比表面及孔结构测试
测定仪技术参数 测定仪测定范围: ≥0.01m2/g,无规定上限 测定仪样品数量: 4个(1个标准样,3个被测样) 测定仪测试效率: 平均每个样品5分钟 测定仪重复精度: ≤±2
-
比表面积及孔结构分布仪
BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布; 微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等) 真密度测试
-
BET比表面及孔结构测试仪
仪器简介:技术参数:及孔径分布测试、总孔体积和平均孔径测定;测试过程完全自动化,智能化, 测量范围: ≥0.01M2/g 至无规定上限,孔尺寸 2~ 200nm ; 样品数量:2
-
安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
-
SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
-
实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载 实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些
-
多级色谱纯化系统
-
安东帕SAXSpace安东帕小角X-射线散射仪 小角X射线散射探索沸石类介孔材料的内部结构
安东帕X射线散射仪安东帕SAXSpace可用于测定材料,适用于无项目。并且参考多项行业标准科研分析,暂无相关标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 用SAXSess mc²研究介孔材料的多孔纳米结构
-
芯硅谷 D6576 384孔深孔板,方孔V型底,已灭菌
-
小角X-射线散射仪X射线散射仪SAXSess mc^2 小角X射线散射探索沸石类介孔材料的内部结构
结构和其内表面。诸如孔格的对称性,孔径尺寸和内比表面积等重要的结构详细信息都能得到确定。 SAXSess mc2应用举例:表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液:胶束尺寸,胶束形状,相行为,囊泡壁的
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net