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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 可再生能源:硅块、硅片、太阳能电池
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Agilent 电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS安捷伦 可检测硅片表面
安捷伦ICP-MS7900参考多项行业标准。完成硅片表面的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的金属污染物项目。 SME-ICP-MS 技术为硅片表面的痕量金属表征提供了一种灵敏且准确的方法。可在
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太阳能硅片厚度仪
太阳能硅片厚度仪采用机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534
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太阳能光伏电池片硅片
美国超视(SuperSight)公司是专业生产硅片分选设备的厂家,各项检测参数处于是行业内领先的地位,公司的团队来自之前在半导体行业大名鼎鼎的美国ADE公司,ADE公司的分选设备是
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MXF-N3 Plus岛津波散型XRF 可检测太阳能玻璃镀膜
岛津多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测太阳能玻璃镀膜,可完成合金分析 项目。符合多项行业标准。 铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳电池具有
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Suna硅片 SC-4-10
衍射实验中的一个关键参数是信噪比和相关可实现的分辨率。Suna硅片允许以最小的背景散射水平进行衍射实验。根据芯片的尺寸和几何形状,它们可以容纳200000个微晶进行连续晶体学实验。由于使用了单晶硅
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Suna硅片 SC-25-45
衍射实验中的一个关键参数是信噪比和相关可实现的分辨率。Suna硅片允许以最小的背景散射水平进行衍射实验。根据芯片的尺寸和几何形状,它们可以容纳200000个微晶进行连续晶体学实验。由于使用了单晶硅
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Agilent 电感耦合等离子体质谱仪7900安捷伦 可检测太阳能(光伏)级硅块
安捷伦ICP-MS7900可用于测定太阳能(光伏)级硅块,适用于超痕量元素杂质项目。并且参考多项行业标准。可应用于生物质材料行业领域。 本文介绍了一种使用Agilent 7500cs ICP-MS
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KIPP&ZONEN灰尘监测系统辐射计量 可检测太阳能组件
KIPP&ZONEN灰尘监测系统KIPP&ZONEN DustIQ 可用于测定太阳能组件,适用于灰尘污染监测项目。并且参考多项行业标准。可应用于空气/废气行业领域。 工作原理: DustIQ仪器
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太阳能电池硅片测厚仪CHY-CA-厂家直供
适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。仪器采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。太阳能电池硅片测厚仪CHY-CA
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