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模组寿命测试系统
一、平铺式模组寿命测试系统平铺式模组寿命是通过亮度计来采集发光模组的亮度变化,从而计算lifetime 的系统。平铺式模组寿命通过把亮度计搭载再由X、Y、Z 三个自动运动直线模组构成的运动平台
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FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统
荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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荧光寿命测试系统堀场HORIBA分子荧光 适用于寿命衰减
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪
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DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
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荧光寿命成像超快光谱测试系统
研究等等。卓立汉光的超快光谱测试系统,根据用户需求基于RTS显微系统,灵活搭建飞秒激光器、条纹相机、荧光寿命成像、飞秒瞬态吸收成像等超快模块,为超快化学及激发态动力学理论研究以及超快化学、物理和生物等
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SPM900系列少子寿命成像测试仪
SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明 非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数,也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中,少子寿命决定了少子扩散长度, 决定了
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分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命:时域荧光或频域荧光
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光,符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific(Jobin Yvon
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荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast分子荧光 可检测NATA
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 HORIBA Scientific
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锁体寿命测试仪
锁体寿命测试仪概述:锁体寿命测试仪专为检测模拟锁具的锁体而使用寿命而设计,可以适应多种锁具的检测,采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求,直接在操作屏幕上面输入
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