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Astrum ES 辉光放电质谱仪
AstruM ES是一台双聚焦辉光放电质谱仪,一次扫描就可以测定从亚ppb到基体之间所有元素的含量。它被广泛地应用在高纯金属,半导体材料,航空航天材料的杂质检测。
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯样品杂志含量和
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯
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动态颗粒图像分析系统图像粒度粒形岛津
粒子计数和图像测量可以通过一台仪器实现。iSpectDIA-10采用先进的粒子分析技术,将单个粒子的图像信息添加到精确的粒子计数中。它使用宽聚焦区域的远心镜头与微流池技术相结合,可以聚焦整个流路
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Nu Instruments Astrum ES 辉光放电质谱仪 用于冶金分析
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动态颗粒图像分析系统
粒子计数和图像测量可以用一台仪器来实现iSpect DIA-10提供了先进的粒子分析技术,将单个粒子的图像信息添加到精确的粒子计数中。采用宽聚焦区域的远心镜头与微流池技术相结合,可聚焦整个流路
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牛津仪器 Imaris多维图像分析软件 探索图像
Imaris 10.0版本相较于与前期Imaris版本的另一亮点在于其能够自动测量丝状结构与其他信号之间的距离,而且分析速度要比上一代产品快5倍,并能轻松处理更大的数据集。Imaris 先进的图像
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ICP-MS赛默飞双聚焦辉光放电质谱仪 可检测整体材料
赛默飞双聚焦辉光放电质谱仪ELEMENT GD Plus可以用在电子/半导体行业领域,用来检测整体材料,可完成超痕量金属项目。符合多项行业标准相对灵敏度系数。 ELEMENT GD PLUS
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赛默飞气相色谱即时连接型脉冲放电检测器
描述两分钟内实现检测器切换Thermo Scientific 即时连接进样器和检测器重新定义了 GC 和 GC-MS 分析的灵活性和可用性。无需特别培训或工具,您可在两分钟内置换出这些模块,并针对特定
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