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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 可检测有机半导体
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测有机半导体等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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Lotix 总有机碳分析仪 应用于半导体工业领域
仪器简介 Lotix全自动燃烧法总有机碳分析仪(TOC)采用高温燃烧法,将样品内的碳氧化为二氧化碳,zei后采用非色散红外检测器(NDIR)进行检测。用于准确测定液体样品内的碳含量
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 使用椭圆偏振光谱仪对有机半导体进行光学表征
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定有机半导体,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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Sievers/威立雅总有机碳TOC分析仪TOC测定仪 应用于电子/半导体
点击查看下载Sievers/威立雅总有机碳TOC分析仪TOC测定仪 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 概况 M9e的规格运行规格*范围0.03 ppb至50 ppm精确度< 1
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总有机碳TOC分析仪TOC测定仪Sievers/威立雅 应用于电子/半导体
点击查看下载总有机碳TOC分析仪TOC测定仪Sievers/威立雅 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 Sievers无机碳去除器( ICR)介绍 Sievers M9e总有机碳(TOC
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牛津仪器半导体检测仪刻蚀和沉积设备 半导体制造
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PlasmaPro 100 Cobra半导体检测仪牛津仪器 应用于电子/半导体
点击查看下载PlasmaPro 100 Cobra半导体检测仪牛津仪器 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 牛津仪器PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀 PlasmaPro 100
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牛津仪器PlasmaPro 100 ALE半导体检测仪 应用于电子/半导体
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Power
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半导体检测仪牛津仪器PlasmaPro 100 Cobra 应用于电子/半导体
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra适用于Semiconductor项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Semiconductor等样品。可应用
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半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE牛津仪器 应用于电子/半导体
牛津仪器原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE适用于Power Semiconductors项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power
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