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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台,可自动移动到选定的测量点,并提
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪F54-XY-200
F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统,快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点,并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从
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德国徕卡 STELLARIS白光激光器
STELLARIS新一代白光激光器(WLL)与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合,使您可自由选择所有光谱,并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。
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烟雾白光测量系统
FTT的烟雾白光测量系统(DIN50055)可与其他仪器共同使用来测定燃烧生产的烟气。该仪器可与墙角燃烧试验试(ISO 9705)、单体燃烧测试(SBI)(EN 13823)、IEC 60332
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WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
)垂直扫描白光干涉干涉(VSI) 四、性能指标(基本配置) (1)垂直测量范围 0~50µm (2)垂直分辨率 1nm (3)测量区域 0.32mm×0.24mm (4)显微镜数值孔径
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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WIVS-II型 垂直扫描白光干涉表面轮廓测量仪
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EQ-9激光驱动白光光源
EQ-9激光驱动白光光源• 辐射亮度> 10mW / mm2.sr.nm(波长相关) - 可用于快速测量• 极低的噪音和出色的空间稳定性 – 带来精确且可重复的实验结果• 双光束输出或更高亮度输出的
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激光驱动白光光源EQ400
Energetiq公司开发的宽带白光光源,采用激光泵浦的方式维持等离子体放电发光,避免了使用电极所带来的种种缺陷。激光驱动白光光源EQ400• 辐射亮度> 100mW / mm2.sr.nm(取决于
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