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安东帕Litesizer 100纳米粒度分析仪 表征微颗粒
只需按下按钮即可进行颗粒分析 Litesizer™ 100 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸。
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安东帕Litesizer 500 纳米粒度及Zeta 电位分析仪 表征微颗粒
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普林斯顿VersaSCAN微区电化学测试系统
仪器简介: VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高
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微区激光拉曼光谱仪
Finder One“微谱”系列微区激光拉曼光谱仪 超高性价比 满足研究级需求的超高性能 自动曝光功能 荧光背景扣除功能 共聚焦光学设计 可定制测试分析软件 扩展联用
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NHT³纳米压痕仪纳米压痕 纳米压痕的动态力学分析
安东帕纳米压痕NHT³用于测定其他,符合行业标准暂无。适用其他项目。 动态力学分析 (DMA) 是基于在某种形式的准静态加载测试上施加振荡部分的测试分析。 它主要用于粘弹性材料,如聚合物。对这些材料
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图像粒度粒形纳米流式颗粒成像分析系统FlowCam®Nano 可检测微塑料
中的流式成像细胞仪(FlowCam®)在微塑料研究中的使用项目。 图1。FlowCam是一款流式颗粒分析仪,可以有效地利用其成像和分析功能分析微塑料。资料来源:Yokogawa Fluid
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XGT-7200V X射线分析显微镜能散型XRFHORIBA 微区XRF分析宝石夹杂物
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜可用于测定宝石夹杂物,适用于元素组成项目。并且参考多项行业标准0。可应用于地矿/有色金属行业领域。 产品特点SDD 检测器,无需
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日本电子JED-2300/2300F 能谱仪 可以进行微区的点分析、线分析及面分析
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牛津仪器Asylum Research Cypher原子力显微镜 微区导电性能特性测量
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HORIBA 能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜 微区XRF分析玩具的铅污染
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜参考多项行业标准0。完成玩具的检测。可以用在玩具/文体用品行业领域中的元素检测,分布项目。 The XGT series
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