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光学表面缺陷分析仪
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 媒介自动缺陷检查
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堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池,适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多
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扫描电镜 场发射扫描电镜 SEM5000 适用于表面缺陷和结构形状
国仪量子 场发射扫描电镜 SEM5000可以用在航空/航天行业领域,用来检测光伏电池,可完成表面缺陷和结构形状项目。符合多项行业标准太阳能电池绒面的研究。 SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的
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