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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 膜厚测量
仪器简介:球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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显微分光膜厚仪OPTM 系列卓立汉光
使用显微分光膜厚仪测量薄膜厚度是十分便捷的。这款仪器集成了所需的功能,可以通过显微光谱法测量多层膜的绝对反射率和光学常数,测量速度极快,只需1秒钟。此外,它还具有广范围的光学系统(紫外至近红外)和
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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波长色散型X射线荧光光谱仪岛津波散型XRF 适用于膜厚测定、薄膜测定
岛津波散型XRFXRF-1800型适用于膜厚测定、薄膜测定项目,参考多项行业标准。可以检测钢板涂层、薄膜等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例 仪器
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UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 适用于膜厚检测
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定DNA传感器垫片,符合行业标准0。适用膜厚检测项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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