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7900ICP-MS安捷伦 适用于金属污染物
路线图2009 年针对 450 mm 晶圆所规定的要求。 产品特性:● 优异的高盐基质耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的稳定等离子体和可选的超耐高盐进样系统 (UHMI) 可帮助
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7900安捷伦Agilent 电感耦合等离子体质谱仪 采用表面金属提取电感耦合等离子体质谱(SME-ICP-MS) 表征硅片表面的金属污染物
操作模式相结合,可使检测能力超过国家技术路线图2009 年针对 450 mm 晶圆所规定的要求。 提升您的期望 — 新型 Agilent 7900 ICP-MS 开启了 ICP-MS 的新纪元
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7900Agilent 电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 应用于地矿/有色金属
操作模式相结合,可使检测能力超过国家技术路线图2009 年针对 450 mm 晶圆所规定的要求。 产品特性:● 优异的高盐基质耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的稳定等离子体和
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Agilent 电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS安捷伦 可检测硅片表面
相结合,可使检测能力超过国家技术路线图2009 年针对 450 mm 晶圆所规定的要求。 提升您的期望 — 新型 Agilent 7900 ICP-MS 开启了 ICP-MS 的新纪元。新型
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Dektak XTL探针式轮廓仪
专业知识和生产设施的应用程序定制为基础,以满足当今和未来严格的行业路线图。300 毫米高精度编码 XY样品台为制造商提供了满足严格计量研发要求的可靠工具。Dektak 的双摄像头控制与高清放大双
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三维光学轮廓仪HD 9800
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德国徕卡 DMi8 S 高速成像平台
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自动光学检验AOI设备 三维集成电路半导体检测仪Camtek
产业路线图。该系统包括数据分析工具,可实现过程监控和提高产量。功能:• 高容量整片肿块2d和3d检查和计量• 层厚度测量• 调整层之间• 覆盖测量• 高分辨率CD测量• 表面相关缺陷检查• TSVCD
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半导体检测仪CamtekCAMTEK
先进的产业需求解决产业路线图。该系统包括数据分析工具使过程监控和产量的提高。功能• 高容量整片肿块 2d 和 3d 检查和计量• 层厚度测量• 调整层之间• 覆盖测量• 高分辨率CD测量• 表面
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实验课题外包
客户提供:1. 实验方案或者实验路线图;2. 实验中用到的特殊材料和试剂;3. 可以用作实验的参考文献。公司提供:1. 公司技术团队查找文献支持,确定实验方案,并请客户确认;2. 根据讨论后的意见
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