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ICP-MS安捷伦Agilent 8900 适用于超痕量钾及其他元素
安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 适用于超痕量钾及其他元素项目,参考多项行业标准。可以检测超纯水等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 采用 Agilent 8800
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4210 MP-AESMPTAgilent 适用于钙、钾、镁和钠等主要元素
安捷伦Agilent 4210 MP-AES用于测定甲醇,符合行业标准。适用钙、钾、镁和钠等主要元素项目。 在典型的多元素分析中,Agilent 4210 MP-AES 拥有高灵敏度、低至 ppb
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iCAP 7200赛默飞ICP-AES 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7200适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目,参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可以检测六氟磷酸锂
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iCAP Q ICP-MS赛默飞 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-MSiCAP Q ICP-MS可以用在其他化工行业领域,用来检测六氟磷酸锂,可完成测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。符合多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008
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iCAP 7600赛默飞ICP-AES 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-AES iCAP 7600可以用在其他化工行业领域,用来检测六氟磷酸锂,可完成测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。符合多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。 随着
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ICP-AES赛默飞 系列 ICP-OES 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞 系列 ICP-OESiCAP 7000 Plus可用于测定六氟磷酸锂,适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。并且参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。可应用于电子
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系列 ICP-OES赛默飞iCAP 7000 Plus 适用于测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-AESiCAP 7000 Plus可以用在其他化工行业领域,用来检测六氟磷酸锂,可完成测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。符合多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008
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ICP-MSiCAP Q ICP-MS iCAP 6000 Series ICP-OES法测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞ICP-MSiCAP Q ICP-MS参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。完成六氟磷酸锂的检测。可以用在其他化工行业领域中的测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素项目。 随着
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Orion Dual Star 钾离子测量仪
仪器简介:能简便、快捷、准确、经济地测量水溶液中的钾离子。技术参数:9719BNWP钾离子复合电极技术参数 电极型号 9719BNWP 测量范围 0.04 ~ 39000 ppm pH
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ICP-AES 系列 ICP-OESiCAP 7000 Plus iCAP 6000 Series ICP-OES法测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
赛默飞 系列 ICP-OESiCAP 7000 Plus参考多项行业标准产品标准HG/T 4066-2008。完成六氟磷酸锂的检测。可以用在其他化工行业领域中的测定六氟磷酸锂中铁钾钠等10种杂质元素
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