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半导体分立器件AEC-Q101认证试验
AEC-Q101对对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了梳理。AEC-Q101试验不仅是对元器件可靠性的国际通用报告,更是打开车载供应链的敲门砖。 广电计量在SiC第三代半导体器件的AEC-Q
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AEC-Q101认证试验
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车规级电子元器件AEC-Q认证测试
。 服务范围集成电路、半导体分立器件、光器件、MEMS器件、MCM模组、阻容感晶振等无源电子元件。检测标准 ●AEC-Q100:适用于各类集成电路芯片; ●AEC-Q101
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电阻器元器件筛选
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电容器元器件筛选
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磁珠元器件筛选
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电感器元器件筛选
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变压器元器件筛选
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功率器件参数测试
、BJT,第三代半导体器件等分立器件,以及上述元件构成的功率模块 测试项目:静态参数符号Drain to Source Breakdown VoltageBVDSSDrain Leakage
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电子元器件筛选
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