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集成电路 IC 卡温度冲击测试机|伯东
达±1℃,特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一:上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商,经过技术选型,采购
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电路焊接板影像仪
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局部高低温测试机Temptronic |上海伯东代理美国进口
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电子标签弯曲测试仪
电子标签弯曲测试仪产品用途:用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。 电子标签弯曲测试仪本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB
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TDI芯片
、行李包检测、木材等各种检测,同时在半导体和电子芯片工业广泛应用于IC和PCB的晶片及电路的视觉在线检测。 多款产品适合OEM工业应用,包括用于在线检测控制的CCD和CMOS芯片,以及
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PCB 板/电子芯片温度冲击专用测试机
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手机电路板表面影像仪
规格参数: 项目主要技术参数仪器型号YVM-6050CNCYVM-8060CNCYVM-12080CNCYVM-150120CNCYVM-200150CNC量测范围mm)600*500
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摩信IC卡三轮测试仪MX-GYY
IC卡三轮测试仪介绍:三轮滚压测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试,适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试,将芯片卡放在机器测试滚轮之间,将芯片在三个钢制滚轮间
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LCI Chamlide IC 系列
Chamlide IC 系列保持恒温箱内的湿度,防止蒸发,以免造成细胞损伤,产生不影响保温箱温度的温热湿气,二氧化碳气体通过加湿器,与热蒸汽混合
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激光芯片1064nm/反射模式微芯片
BATOP GmbH成立于2003年,是一家隶属于德国耶拿大学的私人创新型公司。BATOP从事的专业领域包括:低温分子束外延技术,介质溅射镀膜,晶圆加工和芯片安装技术。在过去几年里, BATOP
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