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X射线荧光仪GOLDSCOPE
特点紧凑且耐用的台式仪器,采用X射线荧光法进行无损的材料分析硬件和软件都是针对黄金和贵金属分析进行优化的样品放置简便,采用了宽敞的测量舱和自下往上的测量方向符合标准EN 61010, DIN ISO
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电镀用X射线荧光分析
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm钨X射线管或钨微聚焦管(XULM
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X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
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X射线荧光光谱仪
×150mm仪器重量:62公斤 X射线荧光光谱仪针对DX320L在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款DX320L。应用新一代的高压电源和X光管,提高产的可靠性
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X射线荧光光谱仪
(H)mm重量:60Kg 针对EXF-5600LX射线荧光光谱仪在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EXF-5600L。应用新一代的高压电源和X光管
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Bowman X射线荧光分析仪
产品描述:美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析
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MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
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X射线荧光光谱仪
SEA1000A(II)能量色散性X荧光分析仪 X射线荧光光谱仪SEA1000AII日本精工SEA1000AII能量色散型X射线荧光分析仪(HazardousSubstanceMonitor
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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微型X射线荧光光谱仪
微型X射线荧光光谱仪规格参数技术规格样品类型固体,液体,颗粒,粉末样品室尺寸20x18x10in。 (508x457x254mm)测量媒体空气,真空,氦气励磁源12-50W,0-60kV
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