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单晶硅标准电池
型号:1)CEL-RCCN单晶硅标准太阳能电池2)CEL-RCCO多晶硅标准太阳能电池标准太阳电池通常用于日常校准或测试光源(氙灯、太阳模拟器等)在被测太阳电池表面所建立的总辐照度(W/m2
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碳素石墨单晶硅电阻率测试仪
:手动液压加压测量 12.工作电源 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗: 部分客户案例:碳素石墨单晶硅电阻率测试仪中科院过程工程研究院河北工程大学温州大学天津大学高确有
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150-LK单晶硅电池恒温恒湿试验箱
±3.0%RH(>75%RH) ±5.0%RH(≤75%RH)升温时间 -40→+150℃ ≤ 60分钟降温时间 +20→-40℃ ≤ 60分钟 勤卓单晶硅太阳能电池恒温恒湿试验箱,电源恒温恒湿
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多晶硅和单晶硅标准太阳能电池
规格参数尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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光伏椭偏仪
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MProbe RT薄膜测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS
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CEL-RCCO多晶硅标准太阳能电池
尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺
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MProbe Vis薄膜测厚仪
性能参数:技术参数: 大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物
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标准反射光栅
散射性能,适合平面和离轴安装。典型光栅厚度为约0.73毫米。基底高度和宽度公差是±0.3毫米。光栅基片:单晶硅。光栅涂层:金种子的铬层。特定应用需求可定制镀膜。Line Density(lines
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