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XAFS/XES 台式X射线吸收精细结构谱仪
精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式。 台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES 美国easyXAFS公司推出的台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),采用独有
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森谱AA6810火焰原子吸收分光光度计
波长范围 :190~900nm 光谱带宽 :0.1、0.2、07、2.0nm四档自动切换 波长准确度:±0.2nm 波长重复性:0.2nm
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原子吸收
锡 1 – 100 200* 应用氢化物发生器附件 “RGP-915”检测. 仪器和试剂 检测应用的仪器和试剂: “MGA-915M” 原子吸收
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森谱AA6810可视型石墨炉原子吸收光谱仪
℃。 体积小,全自动过程控制。 自吸收扣背景,氘灯扣背景。 全自动气体控制 采用管内和管外两路气体分别控制,分析过程中管外保持通气,管内气体在原子化阶段停气,有效的
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森谱AA6810火焰/石墨炉原子吸收分光光度计
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非吸收缝线
F34001-01 非吸收缝线-1#(直径0.45mm) ¥66.00 非吸收的编织无菌外科缝合线,它是由聚对苯二甲酸乙二醇酯组成,其抗张强度仅次于钢丝线。缝线表面涂层,提高了缝合线的
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表面吸收性
纸张和液体快速接触,对于高吸收性的纸张尤其重要调整松紧来实现真实的测试条件客观测试方法,无主观误差测试结果再现性高,可达测试结果的±0.05%精确度高于± 0,1%,在0-3%伸长率时精确度大于分析
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可饱和吸收镜
主要产品包括: SAM半导体可饱和吸收镜 SAM - Saturable Absorber MirrorRSAM共振可饱和吸收镜 RSAM - Resonant SAMSOC可饱和吸收耦合输出
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单光程透射吸收探头
单光程透射吸收探头 透射式探头采用独特的光学设计,通过折返光路,将光源照射穿透样品,然后返回到接收端。单光路探头适合用于高浓度的应用。光程长度可选2-10mm。探头标准配置长度是12英寸
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双光程透射吸收探头
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