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DKF10-MH型痕量级气体分析仪
原理:DKF10-MH多气体分析仪基于红外光声光谱技术,拥有脉冲红外光源,通过窄带光学滤波片,形成中红外区10个光谱波段,用于气体分析;超高灵敏度基于zl的拥有增强悬臂梁光学麦克风技术,可通过
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Avesta 光谱相位干涉直接电场重构系统
。 光谱相位干涉重构系统特点:USB接口单次模式实时测量内置双通道光谱仪应用:振荡器或放大器调谐光谱相位分析与校正 该装置用于测量光谱相位、光谱强度、瞬时强度。也具有自相关功能
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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
应用领域用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。 TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和最新的计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
。TranSpec Micro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpec Lite仪器一样采用白光干涉原理。为了测量非常小的点,TranSpec Micro使用装有实时显示相机的光纤耦合
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德国应用光谱TranSpec Lite白光干涉膜厚仪
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度
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德国应用光谱Plasma Emission Messurement System白光干涉膜厚仪
质谱技术。但是质谱技术既不方便操作,其结果也不容易理解。与此相比,使用OES(发射光谱)和光纤耦合TranSpec光谱仪的有点是显而易见的。技术特征在200…1000nm光谱范围内可同时测量可检测非常
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干涉测量实验装置
束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距,再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像(即虚光源S1、S2)之间的距离代入公式即可。 仪器简介:该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜
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光纤干涉仪
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干涉测量实验装置
仪器简介:仪器特点: 该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜分成两束光,将两束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距,再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像
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激光干涉仪
Today's optics need today's metrologyThe S100/HR is a modern interferomrter providing
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