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三维形貌分析软件SPIP
分析技术,以确保高精度,高质量和成本有效性。¨ 可视化工具和报告输出工具,使得令人信服及印象深刻的结果沟通成为可能。 多年来,扫描探针图像处理软件SPIP™,已经成为实际意义上的纳米级图像处理的
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扫描电镜+能谱分析-SEM+EDS
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扫描电镜分析-SEM
服务详情扫描电镜是一种多功能的仪器,具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点。数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中。它可以观察纳米粒子的形貌
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ZEM15台式扫描电镜能谱一体机
ZEM15台式扫描电镜能谱一体机兼顾样品形貌表征及元素分析功能,体积小巧,操作简便,安装无需特殊环境,只需找一张桌子,供电即可工作。ZEM15台式扫描电镜能谱一体机兼顾样品形貌表征及元素分析功能
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欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪
分析范围:用于2μm~20cm颗粒粒径及形貌分析欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪分析参数:多达43个粒径形貌参数的统计结果,可全面了解样品总体的概况(1)粒形参数:等效面积直径,筛分直径
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扫描电镜(SEM)
可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析(即
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ZEM15原位拉伸-扫描电镜
ZEM15原位拉伸扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜,集成原位拉伸样品台,对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化原位拉伸台参数载荷范围:0-1000N位移分辨率:20nm
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WinWInTec白光干涉形貌仪
应用领域:Wafer晶片,微流控系统,金刚石工具,汽车气缸,光学镜片,金属表面,机身外观(汽车),粗糙度标准片。详情见产品手册。technology measurement principle
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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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三维形貌仪
的图像、大的扫描范围,可定制的波长范范围,使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据
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