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Fischione 180 横截面工具包
包括生产用于透射电子显微镜的高质量横截面标本所需的所有组件。 Fabricate precise cross-section specimens for transmission
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Struers 矿物薄截面用切割和研磨机
研磨多达3个试样至最终厚度,精度为2微米 司特尔 Discoplan-TS:切割和研磨机,用于矿物薄截面的快速、经济加工。配备金刚石杯形砂轮和真空支架,可以同时研磨多达3个试样至最终厚度
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日本电子IB-19530CP截面样品制备装置
所变更。为了满足市场多样化的需求,IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。IB-19530CP 截面样品制备装置为了满足市场多样化的需求
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日本电子IB-19520CCP截面样品制备装置
、恢复到室温,并且可以拆卸。配有传送机构,在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。 IB-19520CCP 截面样品制备装置IB-19520CCP在加工过程中利用液氮冷却,能减轻离子束对
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鲁玟YG002C纤维截面测定仪
化学纤维截面和直径的仪器,用于各种纤维直径测量、截面分析、纺织品成份含量三种测量。 仪器简介鲁玟YG002C纤维截面测定仪是采用图像法测量化学纤维截面和直径的仪器,用于各种纤维直径测量、截面分析
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玉米果穗自动考种仪
本配置专用于玉米籽粒、果穗、截面的精确考种分析(紫黑色玉米的果穗不能测)成像特性:拍照分析的种粒直径0.5~20mm。适用分析工作区尺寸:可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000
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高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000
。 追求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用最理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域
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岩相制备设备
科学。薄截面试样对于鉴定岩石和矿物,以及表征诸如解理、孪晶、反射率等性能是很有用的。 用于岩相分析的试样有薄截面试样和经过抛光的块状试样两类。经过抛光的块状试样与金相试样相似,制备好的试样表面要
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作物考种分析系统
籽粒的考种,同时也适用于玉米果穗、玉米截面的测量。功能特点:1、适用于玉米,水稻,小麦,大豆、油菜,蔬菜等同粒型种子的粒型指标分析。2、玉米整穗分析功能:自动测出各玉米的穗行数、行粒数、穗长、穗粗、秃
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日立 MI4050高性能聚焦离子束系统FIB-SEM
样品来源:兵库县立大学 松井真二 先生SIM像三维重构分析等间隔截面加工与截面观察的往复进行,可取的多张截面连续SIM像,并进行3维重构。由此可判断样品中颗粒,孔洞等3维分布状态。半导体封装材料中的
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