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SPIP材料表面分析软件
将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中,物理,材料科学,化学,生物学,计量学技术,纳米技术等很多领域。 SPIP™图形分析软件支持包括扫描探针显微(SPM),干涉显微镜,扫描电子显微镜(SEM
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电池材料快速比表面仪
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电子材料表面改性等离子蚀刻机app
利用等离子技术对这些材料进行表面处理,在高速高能量的等离子体的轰击下,这些材料结构表面得以大化,同时在材料表面形成一个活性层,这样橡胶、塑料就能够进行印刷、粘合、涂覆等操作。应用等离子技术对橡
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等离子清洗机清洗材料表面改性
。必须对表面的工艺温度进行很好的调节,以防止着火(很薄的材料)3D对象对等离子体腔室中的所有对象进行均匀处理。即使是中空腔室也可以从内部进行处理(例如,点火线圈、水箱等)未知可进行局部表面处理(例如
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北广121 固体材料体积电阻率表面
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导电材料体积表面电阻率测试仪
参数Technical Parameters: 型号ModelLST-303ALST-303B1.电阻测量范围Resistance measuring range104Ω~1×1013Ω104
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橡胶材料专用多站比表面仪JWGB-300系列
进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究。 微孔bet比表面积分析仪性能参数:仪器型号:JW-BK300C 微孔bet比表面
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Vutara350超高分辨率显微镜
总览:3D高速成像,超高分辨率成像,单分子定位成像侧向分辨率:20 nm*轴向分辨率:40 nm到70 nm*图像采集速度:zei高3000帧/秒探测器:sCMOS相机(400万像素,像素大小6.5
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Bruker场扫描共聚焦成像系统Opterra II
样本数:1视野范围:根据物镜倍数扫描速度:100fps扫描分辨率:最大2048*2048能量分辨率:不适用应用领域:小动物Opterra II SpecificationsThe Most
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Inspire红外原子力显微镜
摩擦力显微镜 相位成像 可选择的材料表征模式: PeakForce KPFM——纳米级热分析 导电原子力显微镜——液态成像 PeakForce TUNA——电化学
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