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俄歇电子能谱 AES
服务详情俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,简称AES),是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发
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PHI 710俄歇电子能谱仪
PHI710主要特点:l SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中,包括谱图,深度剖析及元素分布像,需要先在SEM图像上定义样品分析区域,必然要求束
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日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪
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日本电子JED-2300T 能谱仪
过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。 JED-2300T 能谱仪JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成
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硬X射线光电子能谱仪
全自动化的XPS系统采用一束扫描、聚焦、单色化的Al X射线源以及一束扫描、聚焦、单色化Cr X射线源用于高空间分辨率的化学态分析和HAXPES* ( 硬X射线光电子能谱分析)。Al单色化X
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JPS-9030 光电子能谱仪
分析范围JPS-9030采用全新设计的用户界面,进一步提升了可操作性,外观设计现代,时尚。 优化了对深度剖析的应用新开发的考夫曼型蚀刻离子源能提供的蚀刻速率为1 nm/分钟至100 nm /分钟
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高性能X射线光电子能谱仪
了简便的操作、高通量和先进的ESCA技术性能。灵活的“双束”离子源和电子源,使得用户可以很轻松的进行复杂的电荷中和以及深度剖析等分析。 ESCA+特点: 优秀的能量分辨率与计数率
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AXIS NOVA X射线光电子能谱仪
(Delay-Line Detector),同时记录光电子的强度和发射位置,可实现在数秒钟之内获得高能量分辨XPS谱 全自动超大样品台,可实现100mm×100mm的大样品分析 zei佳能量分辨率优于
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X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试
服务详情X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素,可以提供有关固体表面和界面的化学信息(元素种类、相对含量及价态信息)。此外,通过角分辨法及Ar离子剥离
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EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪
回溯成谱: 回溯区域优于6um ●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计,可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求。 空间连续的电阻阳极探测器创新
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