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脆性X综合征检测服务
脆性X综合征检测脆性X综合征(Fragile X Syndrome)是最常见的遗传性智力障碍疾病,发病率仅次于唐氏综合征。致病原因是X染色体上FMR1基因的(CGG)n重复数扩展突变。异常
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LAMBDA 750K探测器
性能参数:LAMBDA 750K作为标准版本的LAMBDA探测器提供了人性化的设计以及优越的性能。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X射线的探测
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LAMBDA 350K 探测器
性能参数:LAMBDA 350K采用GaAs材料或者CdTe材料的,该版本将搭配在2x3 Medipix3芯片上。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X
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LAMBDA 定制化产品
所需的配置。X-Spectrum公司已经完全对LAMBDA 2M wide探测器的工程研究,其感光面积约为255 x 28 mm2。想要了解更多详情,请联系我们。 LAMBDA 9M & 21M
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LAMBDA 2M 探测器
性能参数:LAMBDA 2M采用多个模块拼接的技术连接,将提供zei大的检测区域。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X射线的探测,GaAs和CdTe
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低温脆性测试仪
Elastocon 低温脆性测试仪ET 05, 按照ISO 812,ISO 974,ASTM D746和ASTM D2137自动测定脆化温度。包括仪器和软件。气缸提升测试套件,需要6bar
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低温脆性冲击试验仪
技术参数1、控温范围: +30℃~-70℃ (室温≤25℃)2、降温速度: 70分钟内到达-70℃+30℃~0℃ 约2.0℃/min0
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低温脆性测试仪
低温脆性测试仪 技术参数:1.控温范围:室温 -70℃(室温≤25℃)2.恒温精度:±0.3℃ 3.降温速度:0℃~﹣30℃ 约2.5℃/min﹣30℃~﹣40℃ 约
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低温脆性冲击试验机
:乙醇或其他不冻液9.搅拌电机:8W10.工作电源:220V ~ 240V,50Hz,1.5kW11.工作温度≤25℃ ZHXDW-A低温脆性冲击试验机是测定材料在规定条件下试样受冲击出现破坏时的最高
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橡胶低温脆性检测仪
XCY-II橡胶低温脆性检测仪u 技术参数 1.控温范围:室温 ~ -40℃(室温≤25℃)2.恒温精度:±0.3℃ 3.降温速度:0℃~﹣30℃ 约2.5℃/min﹣30
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