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PPLN晶体
, 30.50, 31.00, 31.50, 32.00, 32.50 160 - 200 1 0.5 x 0.5 SHG7-10 10 PPLN是一种高效的非线形晶体,获得最大的波长转换效率必须对
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PPKTP晶体
周期性极化KTP (PPKTP) 周期性极化磷酸氧钛钾晶体(PPKTP)是一种高效率的非线性材料。 PPKTP可以根据不同的非线性应用定制。相比在传统的KTP应用,PPKTP没有相位匹配的
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PP薄膜-PE薄膜-PVC
,仅二个步骤即可显示密度值。显著的特点是测量精准、操作简便快捷、稳定耐用、经济实用,适合生产现场和品质监测等领域。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300采用一体注塑成型大容量测量配件
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Ge晶体基片
产品名称:Ge晶体基片产品简介:化学符号为Ge ,主要用途有:制作半导体器件、红外光学器件及太阳能电池衬底。技术参数:晶体结构:立方:a = 5.6754 ?;生长方法:提拉法;密度
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KTF 激光晶体
KTF标准规格晶轴朝向 standard available直径公差+ 0.000’’/-0.002’’倒角0.005’’±0.003 @ 45°滚光55 μinches垂直度within 10
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪产品特点:通用表座采用空气阴尼装置,测量稳定可靠集光、机、电、算于一体,体积小,使用方便备有精密可调的多功能测量工作台选购备有RS232通讯接口可与计算机进行通讯采用计量光栅作长度长
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薄膜烘箱
薄膜烘箱适用范围 本方法适用于测定道路石油沥青旋转薄膜烘箱加热(简称RTFOT)后的质量损失,并根据需要测定旋转薄膜加热后,供应商河北大宏实验仪器有限公司沥青残留物的针入度、粘度、延度及脆点
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PET薄膜
PET薄膜形状 有无保护膜长×宽最小厚度片材有20×30cm Min-200um片材无20×30cm Min-125um用途制备PET石墨烯膜,或者其他用途特点高透光度,表面无水波纹,无晶点
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薄膜测厚仪
产品简介:高精度薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。主要参数: 专业名称:测厚仪 测量范围:0
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪仪器简介:提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图
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