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FT160 XRF 镀层分析仪
µmXRF控制器软件 FT160准确、可靠地测量最小部件上的镀层,有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。 日立高新技术公司(TSE:8036)的全资子公司日立分析
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K-8000T镀层厚度分析仪
商品参数 镀层厚度分析方法:能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围:0-50um检测镀层种类:铜镀银、铜镀锡分析精度:单层电镀相对误差不超过10%检测时间:15-20秒检测
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韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150AT
技术指标:1、多镀层,1-6层;2、高测试精度;3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U);4、测量时间:10-60秒;5、SDD探测器,能量分辨率为125电子伏特;6、微焦X射线管50KV/1mA;7
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FT230用于镀层分析的全自动XRF
FT230台式XRF分析仪元件范围Al (13) - U (92)探测器硅漂移SDD检测器腔室设计开槽或已关闭XY舞台设计电动或固定XY 载物台行程250 x 200 毫米电动 Z 轴行程
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禾苗镀层测厚仪器
电源:AC220V/ 50Hz● zei大功率:330W● 工作温度:15-30℃● 相对湿度:≤85%,不结露 E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其
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Thick 8000镀层测厚仪
分析元素范围:硫(S)~铀(U) 同时检测元素:zei多24个元素,多达5层镀层 检出限:可达2ppm,zei薄可测试0.005μm 分析含量:一般为2ppm到99.9
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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)
样品舱 同时分析元素含量和镀层厚度 能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求 电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。 探测器分辨率极高,能更
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韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150WT
技术指标:1、多镀层,1-6层;2、超高测试精度;3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U);4、测量时间:5-60秒;5、SDD探测器,能量分辨率为125电子伏特;6、微焦X射线管50KV
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日立接触式镀层测厚仪
良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。 应用领域手持镀层测厚仪应用于电镀和金属镀层侧厚金属表面处理工艺必须确保在磁性基材上的电镀层或镀锌涂层的 厚度被精确控制,以预防成品缺陷。 在
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双功能涂镀层测厚仪
配置: 主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池 L200测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法,是一种超小型测量仪。 双功能涂镀层测厚仪型号:L200
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