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颗粒图像分析仪
一、LY-2006颗图像分析仪基本参数 测试范围:1-3000微米; 显微镜:中外合资光学显微镜(可选配其他种类显微镜,如进口显微镜、金相显微镜等); 数字
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图形颗粒分析仪
JX-2000图形颗粒分析仪JX-2000图形颗粒分析仪,能准确直观颗粒形貌,并进行颗粒数据处理,适用于控制分析产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分
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沉降颗粒分析仪
保存、数据自动拟合、积分微分分布曲线 沉降分析是物理化学中的一项基本实验,在科研和工业上有着广泛的应用,目前颜料工业、硅酸盐工业、陶瓷工业等对原料及成品质量进行检验的重要手段。JCJ04沉降颗粒
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沉降颗粒分析仪
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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VisualSpreadsheet®颗粒成像分析软件
数据整理:■根据颗粒的特性对图像进行整理(测量)■以表格和可视形式显示结果■提供交互式散点图数据筛选:■筛选基于颗粒特性(测量)■可以创建多个不同属性的筛选条件,这些设置是可以被保存和重复使用
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可吸入颗粒分析仪
技术参数:测定范围:0.01~100 mg/m3(L型)灵 敏 度:0.01mg/m3(L型)测定时间:采样标准时间为1分钟,设有0.1、1、2、5、10分钟及手动档(任意设定采样时间)重 复
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显微颗粒图像分析仪
二、性能特点1. JX-2000颗粒图像分析仪,工业级摄像头高速采集,光学显微镜放大成像,图像快速显示于电脑,直接观察颗粒形貌,专用软件进行颗粒数据处理。2. 测量范围:0.5μm
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PCA颗粒电荷分析仪
颗粒电荷分析仪技术参数型号: PCA测量原理: 流动电流电源: 110 / 230VAC测量范围: -1000 ~ +1000mV显示方式: 数字LED样品体积: 10
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