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扫描电迁移率粒径谱仪
时间: 4 秒 GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合
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大分子迁移率测定仪
分子尺寸范围:0.3 – 1000nm; 迁移率:无实际限制; 高功率DPSS激光光源(50mW),确保超高灵敏度;zei大程度降低电极电压(10000h); 多检测
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SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪
0 ~ 10 V,由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动切断高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器 SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility
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SMPS+E 扫描电迁移率粒径谱仪
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美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)
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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用扫描迁移率粒度仪
集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪 适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用 图1:U-SMPS 2050X
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美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
的,因此在数据分布上不存在间隙。总测量通过为162个,每十进范围64个通道,SMPS系统可为任何超细微粒粒径测定提供zei高的准确度。 宽的粒径范围:应用多样性的3080系列静电分级器和凝聚粒子
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中远红外高光谱仪高光谱相机
红外高光谱仪3-11μm产品参数:光谱范围8-11μm5-8μm3.8–5μm (a) 3.1-4.4 μm (b)光谱分辨率130-220 nm100
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高光谱仪/高光谱成像仪
:30公顷 (74ac),单次飞行,飞行 ? 范围: 使用Parrot Skycontroller 2可高可达2公里/ 1.2英里,无干扰 高度70米(230英尺
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Bi2Se2Te晶体
产品名称:Bi2Se2Te晶体产品简介:常规热电材料,是当前热电因子最大的纯相块体,机械解离可以获得优质的拓扑绝缘体材料.绝缘性好,电阻率高,迁移率好。产品参数:晶向:Hexagonal
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