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对于以固体进样为主的X射线荧光分析技术,要获得一套高质量的固体标准样品有一定难度,限制了X射线荧光分析的应用范围。 而X射线荧光光谱无标样分析技术是20世纪90年代推出的新技术,其目的是不用标准样品也可以分析各种样品。它的基本思路是
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课题。然而,传统的经验系数法极大程度的依赖大量与基体相似的标准样品,而标样与待测样品之间却存在着难以分析的复杂不吻合性,同时,其他生产领域、科研领域也更加需求少标样、无标样的分析。基于以上X射线荧光分析中存在的关键问题,依托国家自然科学基金
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定量分析结果。偏差大于±5%,只能作为半定量结果处理。 但很多时候并没有相应标样,也就用数据库里的标样数据直接用来定量,称为无标样定量。“虽然无标样定量分析方法现在无国家标准,但在不平试样、粉体试样及要求不高的一般分析研究中,应用还比较
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结果的的平均值表示,或在总量误差小于等于±5%的情况下,如确认没有漏测元素时,允许使用归一化值作为定量分析结果。偏差大于±5%,只能作为半定量结果处理。 但很多时候并没有相应标样,也就用数据库里的标样数据直接用来定量,称为无标样定量
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常规的X射线能谱无标样定量分析采用Russ法。最近吴自勤等人又提出X射线能谱无标样定量分析的直接法。本文仍采用直接法,但吸收了Russ法中的优点。用常规的ZAF修正中使用的物理公式,推出X射线能谱另一种无标样定量分析的方法,它更便于计算
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平均值表示,或在总量误差小于等于±5%的情况下,如确认没有漏测元素时,允许使用归一化值作为定量分析结果。偏差大于±5%,只能作为半定量结果处理。 但很多时候并没有相应标样,也就用数据库里的标样数据直接用来定量,称为无标样定量。“虽然无标样
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于SnKA谱线,这个样品不够厚。3常见样品的分析层厚度不同谱线在不同样品中的穿透深度4如何计算样品的分析层厚度1. QuantExpress无标样分析采用无标样分析方法分析样品时,QuantExpress软件会计算各条X射线谱线在样品中的穿透
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发展以来,近20年应用发展迅速。 SEM作为一个电子显微分析平台,分析附件可根据用户需要来选配,有需要这个的,有需要那个的,因此扫描电镜结构种类具有多样性。 就EDS或WDS分析技术来讲,在SEM上使用,基本上使用无标样分析,获得电子束
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eds能谱分析报告元素的比例:2:1。EDS主要检测无机成分在固体微观区域分布状态,定量研究无机元素分布均匀程度。 一般使用无标样定量分析,主元素的定量精度较高,相对误差±2%范围内,微量及痕量元素相对误差很大。地下金属探测器采用声音报警
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本文对作者建立的微区成分无标样定量分析法进行了简化,使原有的计算量大为减少。用简化模型对Cu-Si,FeS2,NaCl,GaAs试样和多元钢样原实验数据进行了定量计算,并与原模型多元程序计算结果进行比较。结果表明,这种简化是合理的。