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使用VUV椭圆偏振光谱仪和FTIR-ATR对纳米级厚度的高k介电材料进行研究
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热刺激电流测量理论与应用
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PPMS上的介电测量
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采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA) 附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
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网络讲座:导电原子力显微镜(C-AFM)在二维材料及纳米电子器件中的应用
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有序介孔材料 比表面积及孔径测试
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高低温介电温谱产品介绍
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环氧树脂的水分检测,水分仪来帮忙
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介孔硅复合材料
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