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Park NX系列 C-AFM Users Manual 操作手册
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利用导电探针原子力显微镜(C-AFM)测量碳纳米管薄膜导电性
。实验所得数据清晰地证明了,这项技术借由整合对数型电流放大器于系统中,可利用来测量不同导电材料的典型表征,以及提供薄膜材料的导电率空间解析图。
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX20 原子力显微镜 应用
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荷兰TE总硫总氮分析仪
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微流控电阻抗谱测量
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色谱技术丛书-气相色谱检测方法
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SILICON SEMICONDUCTOR I 高真空对于电扫描探针显微镜的优势
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