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纳米材料分析案例
运用RAMAN进行纳米碳材料分析·CNT的直径和石墨烯的边缘结构等,各种各样的物性信息·G带D带强度比,碳材料中缺陷的评价量·TERS(尖端增强放大散射)10纳米分辨率的成像
来源:北京绿绵科技有限公司 相关产品:AutoID 全自动质谱校正和分子式识别软件 资料
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亚细胞结构内大分子研究
来源:徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 资料
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TA_TMA
来源:梅特勒托利多 资料
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 资料
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NPFLEX 三维表面测量系统
来源:布鲁克电子显微纳米分析仪器部 相关产品:NPFLEX 三维表面测量系统3D 光学轮廓仪 资料
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充分发挥潜力 通过边带KPFM对分子聚集体进行电势成像
来源:Park帕克原子力显微镜 应用
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高分辨率纳米粒度分析仪技术优势和技术特点
来源:上海胤煌科技有限公司 应用
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高分辨率纳米粒度分析仪技术优势和技术特点
来源:上海胤煌科技有限公司 相关产品:分馏法原液高分辨纳米粒度仪 资料
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