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最近我在测试薄膜的拉曼光谱的时候发现,得到的拉曼谱都是衬底的信号,没有任何薄膜的散射峰。薄膜是做在锗衬底上的结晶氧化物薄膜,厚度大致是100nm左右,激发波长是632nm。从原理上来说至少有一些薄膜的散射峰出来,可是负责测量的老师也弄
2015年11月01日发布人:女儿情
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最近我在测试薄膜的拉曼光谱的时候发现,得到的拉曼谱都是衬底的信号,没有任何薄膜的散射峰。薄膜是做在锗衬底上的结晶氧化物薄膜,厚度大致是100nm左右,激发波长是632nm。从原理上来说至少有一些薄膜的散射峰出来,可是负责测量的老师也弄
2015年11月28日发布人:rrra6
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RT
BOPP或BOPET等薄膜表面处理后能提高其抗划伤性能,不知该如何表征,要求简单、重复性好、易用、不费时,欢迎大家讨论,谢谢!,这个硬度测试不行么?,SO标准和ASTM标准中耐划伤性测试方法:ISO12137—1:1997《色漆和
2016年02月07日发布人:今生如此
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求助,薄膜怎么进行[url=http://www.antpedia.com/?action_mygroup_gid_88]红外光谱[/url]测试?由于膜的任性很好,没法搞成粉末!直接测试,膜又太厚,,,,。请帮忙,可以用压片机适当压一下
2011年01月03日发布人:282850063
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不知道大家的在测试薄膜的XRD会不会带出衬底的信息,目前我测试的时候总是衬底的峰太强,导致样品的峰被压得看不见了!!郁闷啊。。有没有谁有比较好的解决方法啊、、,看是什么基底了啊,一般用的硅片基底是特定晶面,没有峰。但是如果是氧化铝基底就会
2016年04月02日发布人:兔子
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不知道大家的在测试薄膜的XRD会不会带出衬底的信息,目前我测试的时候总是衬底的峰太强,导致样品的峰被压得看不见了!!郁闷啊。。有没有谁有比较好的解决方法啊、、,看是什么基底了啊,一般用的硅片基底是特定晶面,没有峰。但是如果是氧化铝基底就会
2015年05月12日发布人:燕子@
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不知道大家的在测试薄膜的XRD会不会带出衬底的信息,目前我测试的时候总是衬底的峰太强,导致样品的峰被压得看不见了!!郁闷啊。。有没有谁有比较好的解决方法啊、、,看是什么基底了啊,一般用的硅片基底是特定晶面,没有峰。但是如果是氧化铝基底就会
2016年02月23日发布人:跳跳哈里
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大家好,我有一个大约一微米厚的薄膜,现在想测试XRD, 表征薄膜的取向特征,但是我发现试样太薄了,怎么测都没有信号出现呀。
想请教大家有没有什么好的解决办法。
谢谢啦。,TEM是不是更好一点,我感觉TEM只是测试的一个很小的范围,不能
2010年12月02日发布人:No.1
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用匀胶机在硅片上旋涂得到的有机薄膜。拿去红外测试居然和空白硅片谱图差不多。不知道什么原因。
我的是40nm,不知道是不是太薄了。一般测红外有机薄膜得 厚度 要多少。有谁知道。谢谢啦,有没先做空白扣除呀!薄了你扫描次数多几次,要不你再制厚
2013年05月02日发布人:美丽婷婷
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[size=2]相关检测项目:
红外
谢谢大家帮忙![/size],[size=2]在溴化钾窗片上薄薄地涂上一层不就可以测试了吗。使用一个多用插板(200元),把溴化钾窗片(200元)放在插板上即可。[/size],[quote
2016年02月20日发布人:call