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麻烦大大给解释下,谢谢,激发源不同。检测系统相同。
应用范围不同。分析项目相同。
EPMA分析微区表面的成分,可以检测样品的点、线、面的不均匀性。
XRF分析材料的成分。XRF分析的样品面积和深度要比EPMA大。,激发源:EPMA
2016年02月23日发布人:small2011
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部位不在一个平面上造成的,就是只有一种元素的曲线是连续的 另外的元素扫描出来的都不连续,你是用eds了吧,那当然就是元素的含量了。线扫描是epma吧,epma还没用过,eds做的线扫描和点扫描。,那会不会是样品中的成分析出了呢,这个我就不
2016年01月01日发布人:wawa11
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一起来讨论。,那就不用讨论了,这么小的微区,通常的XRF几乎没有足够的信号。,岛津公司的EPMA-1720,它是这样介绍自己的产品的:
电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线,对特征性X射线进行分光和强度测定,得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置
2016年03月25日发布人:small2011
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EPMA EDS EPMA EDS,EPMA is more precious than EDX.
The resolution of EPMA can reach 0.5um
2015年04月26日发布人:铃儿响叮当
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我正在做材料的显微偏析(S和P),去年我用EPMA做,可是EPMA的成像不好(比不上扫描电镜),我没办法分辨微区(几个微米左右),另外材料中S含量很低,只有几十个ppm左右,SEM打不出来。我想问问大家,我这种情况,用场发射扫描电镜可以
2009年10月26日发布人:风大
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即使是热场发射扫描的束流都可以满足阴极发光的要求.
扫描电镜图像和阴极发光图像容易进行对比.,是不是电子探针本身就可以做成分分析而不用借助能谱仪?,Right!
电子探针用的是波谱. 而波谱需要大而稳定的束流, 所以说EPMA的侧重点在成分,而非相貌观测. 但现在的EPMA为
2009年10月27日发布人:77466
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相对比较高,应该是99%以上。
3、当前,我能想到的方法,2um及以上的Au层纯度,也许可以用SEM-EDS或者EPMA来测。
但是对于20nm的Au层纯度,我目前还真的没有合适的方法,因为SEM-EDS或者EPMA的高能电子束有一定的
2015年03月01日发布人:jiushi
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遇到一个棘手的问题,样品直径20um,铜基体,镀层是钯金,如何测定钯在样品中的含量?,电子探针EPMA,请移步电镜版块,上电子能谱 来做分析 简单的就是刮下来分析,刮下来分析不现实吧,球形颗粒?
感觉通过数学求解……
2014年08月29日发布人:adg
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遇到一个棘手的问题,样品直径20um,铜基体,镀层是钯金,如何测定钯在样品中的含量?,电子探针EPMA,请移步电镜版块,上电子能谱 来做分析 简单的就是刮下来分析,刮下来分析不现实吧,球形颗粒?
感觉通过数学求解……
2014年08月23日发布人:tomm
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遇到一个棘手的问题,样品直径20um,铜基体,镀层是钯金,如何测定钯在样品中的含量?,电子探针EPMA,请移步电镜版块,上电子能谱 来做分析 简单的就是刮下来分析,刮下来分析不现实吧,球形颗粒?
感觉通过数学求解……
2015年01月31日发布人:happydream