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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的
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JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜
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JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜
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JEOL JEM-2800 200kV高通量场发射透射电子显微镜
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牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器
Ultim Max TLE是 牛津仪器TEM系列的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
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日本电子JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜
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日本电子JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜
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日本电子JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜 医学
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赛默飞(原FEI) Talos F200S G2 S/TEM 透射电镜
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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
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